プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9195 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.42→66.24 Å / Num. obs: 27027 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 9.2 % / Rmerge(I) obs: 0.108 / Net I/σ(I): 14.5
反射 シェル
解像度: 2.42→2.55 Å / 冗長度: 9.1 % / Rmerge(I) obs: 0.636 / Mean I/σ(I) obs: 3.7 / Num. unique obs: 3897 / % possible all: 99.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0267
精密化
iMOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
MR-Rosetta
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: composite model 解像度: 2.42→66.24 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.957 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.933 / SU B: 13.7 / SU ML: 0.159 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.292 / ESU R Free: 0.209 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: U VALUES : WITH TLS ADDED HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : RESIDUAL ONLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20892
1335
4.9 %
RANDOM
Rwork
0.16956
-
-
-
obs
0.17151
25707
99.94 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.1 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 42.924 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
0 Å2
0 Å2
3-
-
-
0 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.42→66.24 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
3845
0
301
104
4250
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.01
0.018
4294
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.019
3631
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.403
1.89
5858
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
1.1
2.678
8409
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.916
5
484
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
35.027
24.076
211
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.342
15
541
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
19.125
15
10
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.081
0.2
633
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.005
0.02
4771
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
1003
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.474
2.158
1939
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
1.474
2.158
1938
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
2.26
3.234
2422
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_other
2.26
3.234
2423
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
3.305
2.885
2355
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_other
3.305
2.887
2356
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_other
4.726
4.149
3437
X-RAY DIFFRACTION
r_long_range_B_refined
5.761
28.112
4974
X-RAY DIFFRACTION
r_long_range_B_other
5.753
28.076
4963
LS精密化 シェル
解像度: 2.42→2.483 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.27
94
-
Rwork
0.239
1856
-
obs
-
-
99.69 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 28.257 Å / Origin y: 60.631 Å / Origin z: -6.031 Å