ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.8.0267精密化 PDB_EXTRACT3.27 データ抽出 DIALSデータ削減 Aimlessデータスケーリング SHELXDE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.54→61.55 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.925 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.888 / SU B : 4.561 / SU ML : 0.078 / SU R Cruickshank DPI : 0.0913 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.091 / ESU R Free : 0.095 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2659 1532 5.1 % RANDOM Rwork 0.2265 - - - obs 0.2285 28434 99.78 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.7 Å / 減衰半径 : 0.7 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso max : 129.68 Å2 / Biso mean : 23.317 Å2 / Biso min : 5.47 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.17 Å2 -0 Å2 -0.15 Å2 2- - -0.02 Å2 0 Å2 3- - - -0.11 Å2
精密化ステップ サイクル : final / 解像度 : 1.54→61.55 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1383 0 6 97 1486 Biso mean - - 40.77 32.02 - 残基数 - - - - 182
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.01 0.012 1387 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.017 1570 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.428 1.652 1925 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.001 1.58 3543 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.299 5 173 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg34.933 28.077 39 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.022 15 280 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.097 0.2 144 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 1448 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 224
Refine LS restraints NCS Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / タイプ : interatomic distance / Weight position : 0.05
大きな表を表示 (5 x 30) 大きな表を隠す Ens-ID Dom-ID Auth asym-ID 数 Rms dev position (Å)1 1 A831 0.12 1 2 B831 0.12 2 1 A835 0.15 2 2 C835 0.15 3 1 A826 0.16 3 2 D826 0.16 4 1 A824 0.13 4 2 E824 0.13 5 1 A779 0.17 5 2 F779 0.17 6 1 B841 0.14 6 2 C841 0.14 7 1 B823 0.14 7 2 D823 0.14 8 1 B808 0.15 8 2 E808 0.15 9 1 B797 0.16 9 2 F797 0.16 10 1 C815 0.18 10 2 D815 0.18 11 1 C808 0.15 11 2 E808 0.15 12 1 C789 0.17 12 2 F789 0.17 13 1 D803 0.18 13 2 E803 0.18 14 1 D786 0.17 14 2 F786 0.17 15 1 E775 0.15 15 2 F775 0.15
LS精密化 シェル 解像度 : 1.54→1.58 Å / Rfactor Rfree error : 0 / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.299 129 - Rwork 0.285 2099 - all - 2228 - obs - - 99.91 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 12.1999 3.0094 1.1879 2.5237 0.5854 1.6036 -0.0201 -0.4478 0.1703 0.1514 -0.0106 0.01 -0.0133 0.0473 0.0307 0.0188 0.0116 0.0004 0.0298 -0.0031 0.0071 40.7011 21.9799 -1.692 2 15.8213 0.5064 6.7835 1.737 0.6045 4.5697 0.1289 -0.0671 -0.3485 -0.015 -0.0694 -0.132 0.2523 0.0811 -0.0596 0.0445 0.0091 0.0212 0.0157 0.0124 0.0283 42.4588 14.7276 -11.5488 3 15.2926 1.2377 -0.6205 1.521 0.1993 1.5402 -0.0447 -0.0709 0.109 0.0055 -0.0156 -0.1016 -0.196 0.132 0.0604 0.0539 -0.0037 -0.0079 0.0281 0.0098 0.0149 41.154 27.2432 -8.0337 4 11.6779 -0.4061 2.6359 2.1142 -0.3309 3.3563 0.02 0.4337 -0.0568 -0.0903 -0.0925 -0.1297 0.0502 0.3513 0.0725 0.0347 -0.0034 0.0092 0.0446 0.0081 0.0106 42.299 21.1855 -17.2306 5 6.5213 1.5935 0.8217 3.2065 -0.9179 2.2252 -0.0293 -0.2729 0.0965 0.0976 -0.1812 -0.0711 0.2225 0.0936 0.2105 0.0468 0.0105 0.0218 0.028 0.0103 0.0209 41.869 13.677 -1.6097 6 6.117 -1.4874 0.5828 2.885 -0.5499 2.9943 0.1762 0.24 -0.2428 -0.0144 -0.1639 -0.2128 -0.0645 0.3445 -0.0123 0.0709 -0.0396 -0.0431 0.0842 0.0253 0.0659 45.511 29.6037 -17.9394
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 30 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B0 - 101 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C1 - 30 4 X-RAY DIFFRACTION 4 D0 - 30 5 X-RAY DIFFRACTION 5 E1 - 30 6 X-RAY DIFFRACTION 6 F0 - 29