ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.8.0267精密化 xia2データ削減 Aimlessデータスケーリング SHELXD位相決定 Cootモデル構築 PDB_EXTRACTデータ抽出
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 2.1→50.84 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.939 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.937 / SU B : 11.446 / SU ML : 0.153 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.209 / ESU R Free : 0.183 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : U VALUES : WITH TLS ADDED HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : RESIDUAL ONLYRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2645 1440 5.3 % RANDOM Rwork 0.23017 - - - obs 0.23198 25824 99.93 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 1 Å / 減衰半径 : 1 Å / VDWプローブ半径 : 1.3 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 58.149 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -1.12 Å2 -0.56 Å2 -0 Å2 2- - -1.12 Å2 0 Å2 3- - - 3.63 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→50.84 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2630 0 19 52 2701
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 20) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.005 0.018 2705 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 2618 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.286 1.905 3658 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.99 2.755 6061 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.994 5 338 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg33.184 22.586 116 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.328 15 511 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg11.27 15 14 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.059 0.2 409 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 2955 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 565 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it7.66 3.104 1361 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other7.668 3.102 1360 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it7.965 4.643 1696 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_other7.965 4.645 1697 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it12.045 4.104 1344 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_other12.043 4.105 1345 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_other14.008 5.667 1963 X-RAY DIFFRACTION r_long_range_B_refined14.567 38.122 2963 X-RAY DIFFRACTION r_long_range_B_other14.578 38.064 2959
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.155 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.329 95 - Rwork 0.328 1877 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 4.2409 -0.6924 0.6069 1.6133 -0.3202 1.4951 -0.0084 0.1197 0.1711 0.0982 0.0348 0.0272 -0.0108 0.0311 -0.0265 0.1491 -0.0003 0.0051 0.2665 0.0829 0.0329 -0.79 16.919 -27.697 2 3.3228 1.1501 0.5489 2.2383 -0.5182 2.3734 0.0367 -0.0978 -0.0375 0.1424 0.0141 0.0286 -0.0419 -0.011 -0.0508 0.1353 0.0195 -0.0067 0.2268 0.0532 0.015 27.262 4.935 -12.382
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A135 - 321 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B156 - 320