プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9795 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.35→44.56 Å / Num. obs: 27361 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 7.8 % / CC1/2: 0.991 / Net I/σ(I): 16.1
反射 シェル
解像度: 1.35→1.37 Å / 冗長度: 7.7 % / Mean I/σ(I) obs: 3.6 / Num. unique obs: 1316 / CC1/2: 0.944 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
XDS
データスケーリング
Aimless
データスケーリング
SHELXCD
位相決定
SHELXE
モデル構築
ARP/wARP
モデル構築
BUCCANEER
モデル構築
REFMAC
5.8.0158
精密化
Coot
モデル構築
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.35→44.56 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.958 / SU B: 1.528 / SU ML: 0.028 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.048 / ESU R Free: 0.049 / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS