ソフトウェア 名称 バージョン 分類 PHENIX(dev_2328: ???)精密化 XSCALEデータスケーリング SHELX位相決定 PDB_EXTRACT3.2 データ抽出 XDSデータ削減
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.65→47.976 Å / SU ML : 0.15 / 交差検証法 : FREE R-VALUE / σ(F) : 1.35 / 位相誤差 : 15.65 / 立体化学のターゲット値 : MLRfactor 反射数 %反射 Rfree 0.1602 3430 4.55 % Rwork 0.1376 - - obs 0.1386 75312 97.43 %
溶媒の処理 減衰半径 : 0.9 Å / VDWプローブ半径 : 1.11 Å / 溶媒モデル : FLAT BULK SOLVENT MODEL精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.65→47.976 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2182 0 11 246 2439
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal 数 X-RAY DIFFRACTION f_bond_d0.018 2299 X-RAY DIFFRACTION f_angle_d1.474 3125 X-RAY DIFFRACTION f_dihedral_angle_d14.6 1379 X-RAY DIFFRACTION f_chiral_restr0.089 336 X-RAY DIFFRACTION f_plane_restr0.011 415
LS精密化 シェル 大きな表を表示 (7 x 24) 大きな表を隠す 解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Refine-ID % reflection obs (%)1.65-1.6736 0.2917 118 0.2451 2430 X-RAY DIFFRACTION 79 1.6736-1.6986 0.2842 134 0.2172 2713 X-RAY DIFFRACTION 88 1.6986-1.7251 0.2226 138 0.1959 2854 X-RAY DIFFRACTION 94 1.7251-1.7534 0.2099 142 0.181 2914 X-RAY DIFFRACTION 95 1.7534-1.7836 0.2121 132 0.1624 2909 X-RAY DIFFRACTION 96 1.7836-1.8161 0.2232 140 0.1612 2963 X-RAY DIFFRACTION 97 1.8161-1.851 0.2126 140 0.1539 3013 X-RAY DIFFRACTION 98 1.851-1.8888 0.1777 159 0.1501 3034 X-RAY DIFFRACTION 98 1.8888-1.9299 0.1583 141 0.1488 3053 X-RAY DIFFRACTION 98 1.9299-1.9747 0.1662 141 0.1431 3020 X-RAY DIFFRACTION 99 1.9747-2.0241 0.1557 143 0.1403 3050 X-RAY DIFFRACTION 99 2.0241-2.0789 0.1881 144 0.1375 3087 X-RAY DIFFRACTION 99 2.0789-2.14 0.1827 151 0.1354 3008 X-RAY DIFFRACTION 99 2.14-2.2091 0.1469 153 0.133 3076 X-RAY DIFFRACTION 100 2.2091-2.2881 0.1601 145 0.1335 3120 X-RAY DIFFRACTION 100 2.2881-2.3797 0.1415 136 0.1271 3032 X-RAY DIFFRACTION 100 2.3797-2.488 0.1523 160 0.1297 3109 X-RAY DIFFRACTION 100 2.488-2.6191 0.1824 143 0.1301 3026 X-RAY DIFFRACTION 100 2.6191-2.7832 0.1525 148 0.1368 3084 X-RAY DIFFRACTION 100 2.7832-2.9981 0.1618 137 0.1348 3086 X-RAY DIFFRACTION 100 2.9981-3.2997 0.1878 145 0.1395 3075 X-RAY DIFFRACTION 100 3.2997-3.777 0.1615 143 0.1309 3060 X-RAY DIFFRACTION 100 3.777-4.758 0.1093 150 0.1118 3090 X-RAY DIFFRACTION 100 4.758-47.9967 0.145 147 0.1485 3076 X-RAY DIFFRACTION 100
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.4135 0.3401 -0.9239 1.0361 -0.5029 2.9459 0.0378 -0.152 0.0261 -0.0002 -0.0332 -0.0669 -0.1732 0.288 -0.0066 0.1548 -0.0214 0.0024 0.1423 -0.0084 0.1833 8.0967 19.6558 46.4515 2 1.84 0.4213 -0.1344 1.6326 0.4941 2.5742 -0.0343 0.003 -0.1804 -0.118 0.0794 -0.1973 0.097 0.4199 -0.0621 0.1336 0.018 0.016 0.1543 0.0227 0.1482 10.3062 10.6255 38.4106
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Selection details 1 X-RAY DIFFRACTION 1 chain 'A' and (resid 6 through 150 )2 X-RAY DIFFRACTION 2 chain 'A' and (resid 151 through 290 )