ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | (1.10.1_2155: ???)精密化 | XDS | | データ削減 | XSCALE | | データスケーリング | SHELXDE | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.9→33.786 Å / SU ML: 0.14 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.34 / 位相誤差: 23.79 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.21 | 248 | 4.67 % |
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Rwork | 0.1989 | - | - |
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obs | 0.1996 | 3046 | 91.67 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.9→33.786 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 201 | 52 | 12 | 265 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.004 | 289 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d2.046 | 454 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d24.256 | 97 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.042 | 38 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.003 | 13 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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1.9-2.3937 | 0.3183 | 128 | 0.2812 | 2542 | X-RAY DIFFRACTION | 92 | 2.3937-33.7909 | 0.1962 | 120 | 0.1859 | 2517 | X-RAY DIFFRACTION | 91 |
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精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: 13.244 Å / Origin y: 11.9997 Å / Origin z: -3.5719 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
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T | 0.5296 Å2 | -0.0147 Å2 | 0.0126 Å2 | - | 0.3869 Å2 | 0.0014 Å2 | - | - | 0.5273 Å2 |
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L | 8.5056 °2 | -4.2544 °2 | -2.6317 °2 | - | 4.2024 °2 | 3.9555 °2 | - | - | 4.2059 °2 |
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S | -0.1817 Å ° | 0.198 Å ° | -0.2336 Å ° | -0.1857 Å ° | -0.1453 Å ° | 0.1468 Å ° | 0.1445 Å ° | -0.004 Å ° | 0.0215 Å ° |
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精密化 TLSグループ | Selection details: chain c |
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