プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9795 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.69→40 Å / Num. obs: 161910 / % possible obs: 99.6 % / 冗長度: 4.9 % / Net I/σ(I): 7.3
反射 シェル
解像度: 1.69→1.72 Å / Mean I/σ(I) obs: 0.6 / % possible all: 99.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0124
精密化
XDS
データ削減
Aimless
データスケーリング
PHASER
位相決定
Coot
モデル構築
精密化
解像度: 1.69→39.33 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.962 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.951 / SU B: 7.927 / SU ML: 0.116 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.117 / ESU R Free: 0.11 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22772
8573
5 %
RANDOM
Rwork
0.20192
-
-
-
obs
0.20322
161910
97.05 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK