ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | (1.10_2155: ???)精密化 | XDS | | データ削減 | PHASER | | 位相決定 | XDS | | データスケーリング | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: 5CKI 解像度: 2.801→46.446 Å / SU ML: 0.35 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.33 / 位相誤差: 33.25 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2872 | 249 | 4.98 % |
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Rwork | 0.2748 | - | - |
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obs | 0.2755 | 4995 | 96.63 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.801→46.446 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 1232 | 3 | 0 | 1235 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.015 | 1388 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d0.659 | 2134 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d30.205 | 614 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.033 | 251 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.004 | 59 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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2.8009-3.5287 | 0.4024 | 117 | 0.2797 | 2234 | X-RAY DIFFRACTION | 94 | 3.5287-46.4526 | 0.2734 | 132 | 0.2742 | 2512 | X-RAY DIFFRACTION | 100 |
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精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: 4.3772 Å / Origin y: -23.6843 Å / Origin z: 9.4008 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
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T | 1.3092 Å2 | -0.2404 Å2 | -0.1115 Å2 | - | 1.329 Å2 | 0.0195 Å2 | - | - | 0.5892 Å2 |
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L | 5.9474 °2 | 0.2787 °2 | -3.4591 °2 | - | 3.3674 °2 | 1.7706 °2 | - | - | 5.8713 °2 |
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S | 0.3726 Å ° | 0.4383 Å ° | 0.7633 Å ° | 0.0438 Å ° | -0.1089 Å ° | 0.2399 Å ° | -0.4431 Å ° | 0.3141 Å ° | -0.285 Å ° |
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精密化 TLSグループ | Selection details: chain 'D' or chain 'Y' |
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