プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9792 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.02→43.78 Å / Num. obs: 25412 / % possible obs: 91.8 % / Observed criterion σ(I): 3 / 冗長度: 6.2 % / Biso Wilson estimate: 11.24 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.03 / Net I/σ(I): 25.4
反射 シェル
解像度: 1.02→1.08 Å / 冗長度: 6 % / Rmerge(I) obs: 0.71 / Mean I/σ(I) obs: 3 / % possible all: 82.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.02→27.406 Å / SU ML: 0.07 / σ(F): 1.35 / 位相誤差: 10.61 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: ALTERNATE CONFORMATION RESITUES ARE NOT REFINED WITH ANISOTROPIC ADP
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.1264
2400
5.1 %
Rwork
0.1065
-
-
obs
0.1075
25412
90.7 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL