プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97856 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.3→50 Å / Num. obs: 35382 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 6.9 % / Net I/σ(I): 14.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0107
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 3.3→35 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.902 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.859 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.595 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.26048
1772
5 %
RANDOM
Rwork
0.21849
-
-
-
obs
0.22057
33600
99.84 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK