プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.07153 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.44→44.31 Å / Num. obs: 28309 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): 2.2 / 冗長度: 12.3 % / Rmerge(I) obs: 0.09 / Net I/σ(I): 15.4
反射 シェル
解像度: 4.54→44.31 Å / Rmerge(I) obs: 2.7 / Mean I/σ(I) obs: 1.4 / % possible all: 99
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.7.0032
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.44→44.31 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.954 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.931 / SU B: 1.371 / SU ML: 0.053 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.071 / ESU R Free: 0.071 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23156
1432
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.21287
-
-
-
obs
0.21381
26876
99.85 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK