モノクロメーター: SI(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.075 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.9→50 Å / Num. obs: 6725 / % possible obs: 99.3 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 4.7 % / Rmerge(I) obs: 0.061 / Net I/σ(I): 20.4
反射 シェル
解像度: 2.9→3 Å / 冗長度: 4.8 % / Rmerge(I) obs: 0.513 / Mean I/σ(I) obs: 3.1 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHASER
位相決定
REFMAC
5.7.0029
精密化
HKL-2000
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.9→41.77 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.942 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.917 / SU B: 19.684 / SU ML: 0.358 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.406 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.26162
326
4.7 %
RANDOM
Rwork
0.22436
-
-
-
obs
0.22615
6541
99.01 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK