モノクロメーター: double crystal Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9507 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.75→71.19 Å / Num. all: 187811 / Num. obs: 187811 / % possible obs: 99.4 % / 冗長度: 4.2 % / Rmerge(I) obs: 0.118 / Net I/σ(I): 11.7
反射 シェル
解像度: 1.75→1.84 Å / 冗長度: 4 % / Rmerge(I) obs: 0.579 / Mean I/σ(I) obs: 2.2 / % possible all: 99.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
GDA
データ収集
PHASER
位相決定
REFMAC
5.8.0073
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.75→45.98 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.972 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.954 / SU B: 3.919 / SU ML: 0.055 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.106 / ESU R Free: 0.087 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.17949
9330
5 %
RANDOM
Rwork
0.12901
-
-
-
obs
0.13154
178465
99.34 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK