モノクロメーター: double crystal Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.91841 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.41→50 Å / Num. all: 20497 / Num. obs: 20249 / % possible obs: 98 %
反射 シェル
解像度: 2.41→2.5 Å
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
autoSHARP
位相決定
REFMAC
5.7.0029
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単一同系置換・異常分散 / 解像度: 2.41→48.63 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.929 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.908 / SU B: 8.514 / SU ML: 0.195 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.387 / ESU R Free: 0.268 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.26917
1013
5 %
RANDOM
Rwork
0.22876
-
-
-
obs
0.23077
19235
98.98 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK