モノクロメーター: SI 111 CHANNEL / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9791 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.2→136.44 Å / Num. obs: 24746 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 13.9 % / Biso Wilson estimate: 78.1 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.173 / Net I/σ(I): 21
反射 シェル
解像度: 3.2→3.31 Å / 冗長度: 10.6 % / Rmerge(I) obs: 0.846 / Mean I/σ(I) obs: 2.94 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
SOLVE
位相決定
REFMAC
5.6.0117
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 3.2→136.44 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.936 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.904 / SU B: 15.043 / SU ML: 0.251 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 1.533 / ESU R Free: 0.381 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.238
1256
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.193
-
-
-
obs
0.195
24746
100 %
-
all
-
24746
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK