ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.9→56.17 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.953 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.927 / SU B : 3.23 / SU ML : 0.098 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.154 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22769 556 4.7 % RANDOM Rwork 0.1751 - - - obs 0.17743 11154 99.69 % - all - 11189 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 18.087 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.32 Å2 0 Å2 0.08 Å2 2- - 0.92 Å2 0 Å2 3- - - -0.58 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.9→56.17 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1199 0 51 62 1312
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.024 0.021 1350 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg3.907 2.045 1842 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.345 5 156 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg42.195 25.094 53 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg17.379 15 238 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg12.629 15 2 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.239 0.2 184 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.014 0.02 1005 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.277 1.5 765 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.214 2 1218 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.665 3 585 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it5.643 4.5 624 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.9→1.948 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.251 51 - Rwork 0.179 804 - obs - - 98.84 %