ソフトウェア 名称 : REFMAC / バージョン : 5.2.0019 / 分類 : 精密化精密化 構造決定の手法 : フーリエ合成開始モデル : PDB ENTRY 2MM1解像度 : 1.65→18.4 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.956 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.943 / SU B : 1.726 / SU ML : 0.06 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.103 / ESU R Free : 0.096 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.19848 909 5.2 % RANDOM Rwork 0.17455 - - - obs 0.17574 16731 94.82 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 14.295 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.09 Å2 0.04 Å2 0 Å2 2- - 0.09 Å2 0 Å2 3- - - -0.13 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.65→18.4 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1159 0 58 100 1317
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.022 1283 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg0.995 2.076 1753 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.197 5 161 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg38.357 25.283 53 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg11.739 15 224 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.988 15 3 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.068 0.2 179 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 963 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.192 0.2 558 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.303 0.2 851 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.124 0.2 91 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.116 0.2 41 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.086 0.2 15 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.67 1.5 781 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.034 2 1216 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.931 3 562 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.007 4.5 530 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.65→1.693 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.189 68 - Rwork 0.233 1027 - obs - - 79.23 %