ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 CNS精密化 CrystalClearデータ収集 CrystalClearデータ削減 CrystalClearデータスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1U1I解像度 : 2→68.2 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.951 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.902 / SU B : 13.713 / SU ML : 0.195 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.251 / ESU R Free : 0.217 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.28198 1320 5.1 % RANDOM Rwork 0.21504 - - - obs 0.21836 24770 97.6 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 29.151 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.61 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 2.12 Å2 0 Å2 3- - - -1.51 Å2
Refine analyze Luzzati sigma a obs : 0.217 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→68.2 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3080 0 86 235 3401
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.018 0.022 3344 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.927 1.996 4541 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.301 5 423 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.161 24.414 145 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg16.797 15 586 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg13.503 15 14 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.115 0.2 492 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.008 0.02 2493 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.24 0.2 1785 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.32 0.2 2299 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.232 0.2 237 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.212 0.2 99 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.231 0.2 24 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.793 1.5 1995 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.364 2 3220 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.369 3 1394 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.287 4.5 1304 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.998→2.05 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.339 96 - Rwork 0.318 1777 - obs - - 95.85 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 5) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.4459 0.0845 0.0886 0.3244 -0.3567 0.7637 0.095 0.0143 -0.0675 -0.0333 -0.0388 0.0244 0.1389 0.0458 -0.0562 0.0028 0.0632 -0.0055 -0.0486 0.0055 -0.0228 17.8925 18.1441 9.7218 2 0.5866 0.1058 0.4207 0.5497 0.0359 1.4845 -0.0065 -0.0732 -0.0296 0.0703 0.0216 0.0117 0.0026 0.012 -0.0151 -0.0234 0.033 -0.0095 -0.0134 0.0207 -0.0645 18.4204 22.5248 27.6111 3 0.2303 -0.2006 -0.0577 0.5563 -0.2085 0.19 0.0348 0.0891 -0.0266 0.0994 -0.085 0.0709 -0.036 0.1913 0.0501 0.0067 -0.0092 -0.0176 -0.0217 0.0099 -0.0017 21.2645 38.1805 15.6059 4 0.7223 -0.2939 -0.2758 0.4502 -0.6718 1.9644 0.0879 -0.2566 -0.0381 0.1643 -0.1326 0.0711 0.0087 0.48 0.0446 -0.0149 -0.0052 -0.0153 -0.0461 0.0011 -0.0134 10.8272 39.8038 19.8596 5 0.0271 -0.0487 0.0047 0.2452 -0.2642 0.4156 0.0407 -0.0646 0.0611 -0.0239 -0.0595 0.0294 -0.0237 0.1553 0.0188 0.0184 0.0006 -0.0075 -0.0664 0.0005 0.0339 19.0089 38.8136 8.9136
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 75 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A76 - 188 3 X-RAY DIFFRACTION 3 A189 - 258 4 X-RAY DIFFRACTION 4 A259 - 286 5 X-RAY DIFFRACTION 5 A287 - 392