ソフトウェア 名称 バージョン 分類 StructureStudioデータ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 XDSデータ削減 XDSデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1LS6解像度 : 2.35→46.93 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.947 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.925 / SU B : 23.103 / SU ML : 0.246 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.488 / ESU R Free : 0.288 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.27611 1337 5 % RANDOM Rwork 0.2297 - - - obs 0.23203 25385 100 % - all - 15673 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 55.574 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -4.29 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 6.76 Å2 0 Å2 3- - - -2.47 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.35→46.93 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 4700 0 82 36 4818
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.005 0.022 4932 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg0.947 1.979 6704 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.991 5 574 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg32.637 23.874 222 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg16.702 15 832 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.94 15 22 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.055 0.2 700 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.005 0.021 3758 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 998 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.001 1.5 2892 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.038 1.5 1140 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.726 2 4706 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.822 3 2040 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.19 4.5 1998 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.35→2.411 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.331 100 - Rwork 0.316 1889 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 7.2978 -0.1868 1.8316 0.924 -0.189 5.0212 -0.0745 -0.3112 -0.4197 0.0821 0.0261 0.1851 0.1216 -0.2308 0.0484 0.1231 -0.0042 0.021 0.0193 0.0078 0.1682 1.1351 18.2382 13.5583 2 6.3522 -0.3076 1.0979 1.019 -0.1888 4.8591 -0.092 -0.1324 -0.4453 0.0738 0.0215 0.2056 0.1408 -0.1832 0.0705 0.1173 -0.0155 0.0191 0.0102 0.0024 0.1508 31.754 53.9708 13.6811
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A8 - 295 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B8 - 295