ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MAR345dtbデータ収集 MrBUMP位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 XDSデータ削減 SCALAデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.3→46.89 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.955 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.94 / SU B : 19.515 / SU ML : 0.224 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.309 / ESU R Free : 0.237 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.25952 452 4.8 % RANDOM Rwork 0.2126 - - - obs 0.21478 9044 99.33 % - all - 8341 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 71.936 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -2.35 Å2 -1.17 Å2 0 Å2 2- - -2.35 Å2 0 Å2 3- - - 3.52 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.3→46.89 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1317 0 7 47 1371
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.017 0.022 1353 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.703 1.941 1829 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.447 5 163 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.585 23.548 62 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg20.913 15 237 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg24.331 15 9 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.114 0.2 199 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.008 0.021 1011 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.896 1.5 812 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.674 2 1316 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.708 3 541 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.428 4.5 513 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.3→2.36 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.485 31 - Rwork 0.34 655 - obs - - 98.85 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 6.7347 2.4013 -0.7132 6.0569 1.1743 6.7829 -0.4377 0.294 -0.2103 0.1032 0.2054 -0.0532 0.2347 0.358 0.2323 0.5226 -0.0737 -0.0008 0.3116 0.0341 0.0604 -18.103 16.985 -1.288 2 1.3449 2.5567 6.5378 4.0462 -6.0837 5.0214 -0.0763 -0.5462 -0.3688 1.3359 -0.0883 -0.1471 0.0993 0.3715 0.1646 1.6242 -0.065 -0.042 0.9307 0.0222 0.4704 -15.821 12.532 12.042 3 2.3128 2.9719 -1.1821 6.0564 -0.8751 2.1614 0.0077 -0.1102 0.0179 0.3647 0.0516 -0.0337 -0.0595 0.1959 -0.0593 0.5163 -0.0848 -0.011 0.4512 0.0079 0.0725 -22.466 15.297 4.024
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A8 - 34 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A35 - 79 3 X-RAY DIFFRACTION 3 A80 - 171