ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CrystalClearデータ収集 AMoRE位相決定 REFMAC5.5.0110精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1JAC解像度 : 2→56.57 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.954 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.939 / SU B : 7.409 / SU ML : 0.095 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.19 / ESU R Free : 0.157 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2115 1022 5.1 % RANDOM Rwork 0.17843 - - - obs 0.18013 18885 93.97 % - all - 19935 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 24.286 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.02 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.01 Å2 0 Å2 3- - - -0.02 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→56.57 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2318 0 0 105 2423
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.009 0.022 2376 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.184 1.956 3225 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.495 5 298 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg35.79 24.526 95 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg16.616 15 370 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg10.004 15 4 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.082 0.2 354 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.021 1802 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.588 1.5 1482 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.135 2 2393 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.6 3 894 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.632 4.5 832 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.998→2.05 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.258 51 - Rwork 0.198 1022 - obs - 18885 68.83 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.8068 0.2472 0.0549 0.2587 0.1423 1.1395 -0.0106 0.1866 -0.0775 0.0491 0.0449 -0.0365 -0.0614 0.0143 -0.0344 0.0415 0.0006 0.0078 0.0647 -0.0279 0.0325 21.4192 20.3937 40.3136 2 1.2582 0.1385 0.0896 0.2629 -0.1717 0.9244 0.0615 0.059 -0.0401 0.0227 0.0358 -0.0029 -0.0479 -0.1161 -0.0973 0.0308 0.018 -0.0026 0.0222 0.0143 0.0651 -0.4897 18.4395 54.8326
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A3 - 157 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B1 - 157