ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB XSCALEデータスケーリング Show PHASER2.1.4位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.1 データ抽出 Show StructureStudioデータ収集 XDSデータ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1cgo解像度 : 2.2→50 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.947 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.911 / WRfactor Rfree : 0.186 / WRfactor Rwork : 0.141 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0.5 / FOM work R set : 0.858 / SU B : 11.988 / SU ML : 0.136 / SU R Cruickshank DPI : 0.266 / SU Rfree : 0.209 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R Free : 0.209 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23 2301 5 % RANDOM Rwork 0.17 - - - obs 0.173 45664 99.48 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso max : 68.89 Å2 / Biso mean : 17.105 Å2 / Biso min : 3.61 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.13 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 1.03 Å2 0 Å2 3- - - -1.15 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.2→50 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6531 0 0 593 7124
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.014 0.022 6658 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.356 1.975 9041 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.497 5 917 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg38.158 25.148 237 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.063 15 1061 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.826 15 33 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.087 0.2 1073 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.021 4976 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.613 1.5 4529 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.138 2 7166 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.189 3 2129 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.692 4.5 1870
Refine LS restraints NCS Ens-ID : 1 / 数 : 1569 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Dom-ID Auth asym-ID タイプ Rms dev position (Å)Weight position 1 ALOOSE POSITIONAL0.22 5 2 BLOOSE POSITIONAL0.2 5 3 CLOOSE POSITIONAL0.22 5 4 DLOOSE POSITIONAL0.33 5 1 ALOOSE THERMAL2.01 10 2 BLOOSE THERMAL1.37 10 3 CLOOSE THERMAL1.88 10 4 DLOOSE THERMAL1.88 10
LS精密化 シェル 解像度 : 2.2→2.257 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.281 159 - Rwork 0.204 3171 - all - 3330 - obs - - 98.99 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.1618 0.0045 0.0989 0.0596 0.0617 0.4178 0.011 -0.0477 0.0007 -0.019 0.0158 0.0175 -0.0025 0.0564 -0.0269 0.0162 -0.0016 -0.0094 0.0354 -0.0071 0.0121 -2.3948 13.4826 -19.5334 2 0.2146 0.0031 -0.1758 0.2498 0.0334 0.2704 0.0044 0.0349 -0.0185 -0.0028 0.0107 0.007 0.0016 0.0192 -0.0151 0.0187 0.0009 -0.0093 0.0237 -0.0141 0.0122 -5.5474 10.7132 -49.6674 3 0.2541 -0.0801 0.1967 0.1113 0.0286 0.5034 0.009 0.0144 0.0262 -0.0192 0.0312 -0.0085 0.0122 -0.0215 -0.0402 0.0127 -0.0127 -0.0024 0.0288 0.0163 0.0173 -37.5331 14.9755 -45.996 4 0.025 0.0327 -0.0222 0.1512 0.0184 0.5264 -0.0104 -0.0197 0.0005 -0.0109 0.0138 -0.0087 0.0323 -0.0192 -0.0034 0.0136 0.0023 -0.0052 0.0295 0.003 0.0174 -34.1707 14.0088 -15.6922
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A-10 - 9999 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B-10 - 9999 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C-10 - 9999 4 X-RAY DIFFRACTION 4 D-10 - 9999