ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CrystalClearデータ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.2.0019精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 3M8E解像度 : 2.8→31.37 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.955 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.917 / SU B : 41.933 / SU ML : 0.348 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.425 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2661 274 4.8 % RANDOM Rwork 0.20393 - - - obs 0.20696 5393 88 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 26.684 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.07 Å2 0 Å2 -0.17 Å2 2- - -0.74 Å2 0 Å2 3- - - 0.6 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.8→31.37 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1551 0 0 7 1558
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.011 0.022 1577 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.224 1.94 2129 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.71 5 193 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg40.065 25.128 78 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg20.864 15 279 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.019 15 7 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.088 0.2 239 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 1185 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.236 0.2 775 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.313 0.2 1112 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.128 0.2 55 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.314 0.2 48 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.114 0.2 5 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.392 1.5 988 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.765 2 1552 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.07 3 669 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.838 4.5 577 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.8→2.873 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.445 17 - Rwork 0.383 394 - obs - - 86.89 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.7929 0.1094 1.3326 9.1355 1.6186 3.8281 0.0919 0.003 0.2475 -0.2151 0.2779 -0.4753 -1.0143 0.4931 -0.3698 0.5867 -0.1089 0.0689 0.6523 -0.0779 0.3658 18.338 21.824 6.121 2 6.5409 -1.8071 -0.5127 8.4552 -0.6365 7.4661 -0.3599 -0.1536 -0.3568 0.1797 0.2167 0.0558 0.897 0.3734 0.1432 0.3734 0.059 0.0375 0.4792 -0.0501 0.2932 17.611 1.788 6.249
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A5 - 100 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B4 - 102