ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MAR345データ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.4.0067精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1RC2解像度 : 2.01→31.18 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.956 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.947 / SU B : 7.848 / SU ML : 0.101 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.138 / ESU R Free : 0.131 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.21859 2201 5.1 % RANDOM Rwork 0.18803 - - - all 0.1827 44107 - - obs 0.18959 41064 93.1 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 31.722 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -3.9 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -2.74 Å2 0 Å2 3- - - 6.64 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.01→31.18 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3333 0 0 62 3395
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.03 0.022 3426 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.86 1.948 4681 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.941 5 459 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg30.52 22.136 103 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg13.54 15 458 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg10.136 15 8 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.19 0.2 548 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.013 0.021 2565 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.441 1.5 2253 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.069 2 3565 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.704 3 1173 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.945 4.5 1116 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.005→2.057 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.247 100 - Rwork 0.238 2093 - obs - - 65.02 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.3354 0.06 -0.0348 0.6107 -0.0446 0.1463 -0.0613 0.1256 -0.023 -0.1157 0.0862 -0.0041 0.028 0.0043 -0.0249 0.0954 -0.0592 0.0032 0.1053 -0.0097 0.0072 29.201 47.078 55.411 2 0.2586 0.0556 -0.1065 0.3903 -0.0471 0.2252 -0.0542 0.0286 0.1419 -0.0029 0.0854 0.004 -0.028 -0.0123 -0.0313 0.0675 -0.006 -0.0144 0.043 0.0196 0.0994 28.397 70.276 70.408
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 227 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B-5 - 227