ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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DENZO | | データ削減 | | SCALEPACK | | データスケーリング | | REFMAC | 5.5.0054精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.005 | データ抽出 | | SBC-Collect | | データ収集 | | HKL-3000 | | データ削減 | | HKL-3000 | | データスケーリング | | SHELXD | | 位相決定 | | MLPHARE | | 位相決定 | | 直接法 | | 位相決定 | | SOLVE | | 位相決定 | | RESOLVE | | 位相決定 | | HKL-3000 | | 位相決定 | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.08→45.36 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.955 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.928 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.2 / SU B: 11.678 / SU ML: 0.14 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / ESU R: 0.22 / ESU R Free: 0.194 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : RESIDUAL ONLY
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.251 | 722 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.195 | - | - | - |
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all | 0.197 | 14349 | - | - |
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obs | 0.197 | 14349 | 99.77 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 59.8 Å2 / Biso mean: 28.092 Å2 / Biso min: 15.27 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 1.78 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 0.08 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -1.87 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.08→45.36 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1663 | 0 | 0 | 118 | 1781 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.017 | 0.022 | 1724 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d0.001 | 0.02 | 1087 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.557 | 1.949 | 2348 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg0.951 | 3 | 2690 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg6.122 | 5 | 239 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg34.385 | 25.161 | 62 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg14.871 | 15 | 281 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg26.981 | 15 | 6 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.097 | 0.2 | 288 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.006 | 0.02 | 1960 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other0.001 | 0.02 | 328 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.843 | 1.5 | 1157 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_other0.228 | 1.5 | 477 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.465 | 2 | 1835 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it2.408 | 3 | 567 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it3.723 | 4.5 | 508 | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.08→2.134 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.278 | 57 | - |
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Rwork | 0.225 | 968 | - |
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all | - | 1025 | - |
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obs | - | 1025 | 99.13 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 2.9514 | -0.3531 | -0.6711 | 4.6597 | 1.4906 | 3.3939 | 0.058 | -0.148 | 0.1013 | -0.0192 | 0.0091 | -0.1487 | -0.1206 | 0.1197 | -0.067 | 0.075 | -0.0293 | -0.0092 | 0.0285 | 0.0018 | 0.0102 | 41.4482 | 18.9182 | 20.5481 | 2 | 3.6585 | 0.0136 | 0.9529 | 3.278 | 0.0816 | 3.7402 | 0.1078 | -0.2148 | -0.2826 | 0.1397 | 0.1055 | 0.0329 | 0.1513 | 0.0065 | -0.2133 | 0.0323 | -0.0229 | 0.0002 | 0.0482 | -0.0008 | 0.0362 | 24.9882 | 33.3582 | 31.3391 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A1 - 113 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B1 - 115 | | |
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