ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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MOSFLM | | データ削減 | | SCALA | 3.2.25データスケーリング | | PHASER | | 位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.006 | データ抽出 | | MxCuBE | | データ収集 | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: PDB ENTRY 3CLC 解像度: 3→35.69 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.91 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.895 / WRfactor Rfree: 0.269 / WRfactor Rwork: 0.248 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 1 / FOM work R set: 0.811 / SU B: 50.745 / SU ML: 0.406 / SU R Cruickshank DPI: 0.453 / SU Rfree: 0.486 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R Free: 0.478 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.267 | 164 | 4.5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.248 | - | - | - |
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obs | 0.249 | 3615 | 100 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 65.28 Å2 / Biso mean: 56.744 Å2 / Biso min: 20 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 0.42 Å2 | 0.21 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 0.42 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -0.63 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 3→35.69 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1208 | 0 | 0 | 0 | 1208 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.014 | 0.022 | 1207 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.69 | 1.998 | 1614 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg5.971 | 5 | 150 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg27.249 | 24.667 | 45 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg24.613 | 15 | 256 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg23.701 | 15 | 6 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.126 | 0.2 | 199 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.005 | 0.02 | 824 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_refined0.261 | 0.2 | 643 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbtor_refined0.326 | 0.2 | 840 | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_refined0.168 | 0.2 | 39 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_refined0.409 | 0.2 | 21 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_hbond_refined0.35 | 0.2 | 5 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.401 | 1.5 | 781 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it0.623 | 2 | 1213 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it0.803 | 3 | 478 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it1.264 | 4.5 | 401 | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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Refine LS restraints NCS | Dom-ID: 1 / Auth asym-ID: A / Ens-ID: 1 / 数: 524 / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION タイプ | Rms dev position (Å) | Weight position |
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TIGHT POSITIONAL0.08 | 0.05 | TIGHT THERMAL0.09 | 0.5 | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 3.001→3.078 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.238 | 17 | - |
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Rwork | 0.305 | 239 | - |
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all | - | 256 | - |
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obs | - | - | 100 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 12.3308 | 0.1278 | 5.93 | 6.6956 | -4.3753 | 15.8733 | -0.5287 | -0.337 | 0.2507 | 0.68 | 0.0457 | 0.1607 | -1.0882 | 0.1207 | 0.483 | -0.3289 | 0.0324 | -0.0144 | 0.214 | 0.0742 | -0.1637 | 11.8108 | 4.5072 | 6.9148 | 2 | 9.5146 | -3.0602 | 0.3386 | 2.0107 | -0.3308 | 4.5993 | -0.1236 | -0.0358 | -0.1526 | -0.5419 | -0.3265 | -0.2928 | -0.2744 | 0.1971 | 0.4502 | -0.0936 | -0.1471 | -0.045 | 0.4162 | 0.1537 | 0.2487 | 29.9081 | 5.9774 | -2.2473 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A2 - 75 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B3 - 79 | | |
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