モノクロメーター: DCM - PAIR OF FLAT SI CRYSTALS / プロトコル: MAD / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.97923
1
2
0.97939
1
3
0.97166
1
Reflection
冗長度: 6.6 % / Av σ(I) over netI: 14.2 / 数: 148933 / Rmerge(I) obs: 0.073 / Χ2: 1.05 / D res high: 1.85 Å / D res low: 30 Å / Num. obs: 22468 / % possible obs: 96.5
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
3.98
30
97.8
1
0.046
1.073
6.6
3.16
3.98
99.4
1
0.063
1.032
6.9
2.76
3.16
99.4
1
0.089
1.071
7
2.51
2.76
99.6
1
0.116
1.059
6.9
2.33
2.51
99.9
1
0.158
1.015
7
2.19
2.33
100
1
0.222
1.016
6.9
2.08
2.19
99.5
1
0.283
1.047
6.8
1.99
2.08
97.5
1
0.35
1.06
6.4
1.92
1.99
91
1
0.449
1.061
6.4
1.85
1.92
80.6
1
0.577
1.063
5.2
反射
解像度: 1.82→30 Å / Num. all: 23255 / Num. obs: 22805 / % possible obs: 98.1 % / 冗長度: 6.8 % / Biso Wilson estimate: 31.752 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.086 / Net I/σ(I): 16.09
反射 シェル
解像度: 1.82→1.89 Å / 冗長度: 5.6 % / Rmerge(I) obs: 0.0517 / Mean I/σ(I) obs: 2.2