プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9792 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.3→17 Å / Num. obs: 14953 / % possible obs: 98.57 % / Observed criterion σ(I): -3 / Biso Wilson estimate: 82.5 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.08 / Net I/σ(I): 19.6
反射 シェル
Diffraction-ID: 1
解像度 (Å)
最高解像度 (Å)
Rmerge(I) obs
Mean I/σ(I) obs
Num. measured obs
Num. unique obs
% possible all
3.3-3.35
0.478
4.3
4367
639
97.3
3.35-3.4
0.411
5
4341
620
98.9
3.4-3.5
0.353
5.6
7888
1128
99.2
3.5-3.75
0.262
7.6
16213
2320
99.2
3.75-4
0.147
12.6
12465
1787
99.1
4-6
0.066
24.1
40989
5950
98.7
6-8
0.044
32.5
9977
1495
97.8
8-10
0.03
39.9
3275
542
96.6
10-12
0.021
59
1554
246
95.7
12-14
0.023
56.5
775
130
95.6
14-16
0.021
56.9
402
71
95.9
16
0.019
54
140
25
13.8
-
位相決定
位相決定
手法: 多重同系置換・異常分散
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
XSCALE
dataprocessing
SHARP
位相決定
PHENIX
精密化
PDB_EXTRACT
3
データ抽出
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 多重同系置換・異常分散 / 解像度: 3.3→16.985 Å / FOM work R set: 0.794 / SU ML: 0.46 / 位相誤差: 26.76 / 立体化学のターゲット値: ML / 詳細: This structure was refined using TLS in PHENIX.
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.267
757
5.06 %
Rwork
0.22
-
-
obs
0.222
14953
98.57 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 51.059 Å2 / ksol: 0.281 e/Å3
原子変位パラメータ
Biso max: 219.59 Å2 / Biso min: 46.99 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-9.466 Å2
-0 Å2
0 Å2
2-
-
-9.466 Å2
-0 Å2
3-
-
-
18.932 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 3.3→16.985 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
4412
0
0
0
4412
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
数
Weight
X-RAY DIFFRACTION
f_angle_d
0.944
6108
1
X-RAY DIFFRACTION
f_bond_d
0.006
4506
1
X-RAY DIFFRACTION
f_chiral_restr
0.063
688
1
X-RAY DIFFRACTION
f_dihedral_angle_d
20.254
1659
1
X-RAY DIFFRACTION
f_plane_restr
0.004
791
1
X-RAY DIFFRACTION
f_nbd_refined
4.13
1
LS精密化 シェル
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Rfactor Rfree: 0.307 / Rfactor Rwork: 0.273 / Total num. of bins used: 5