温度: 293 K / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 / pH: 6.5 詳細: 10% PEG 6000, 0.1M cacodylate, pH 6.5, temperature 293K, VAPOR DIFFUSION, HANGING DROP
-
データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
1
100
1
2
100
1
放射光源
由来
サイト
ビームライン
ID
波長 (Å)
シンクロトロン
NSLS
X4A
1
0.97923
シンクロトロン
NSLS
X4A
2
0.97917, 0.97948, 0.96791
検出器
タイプ
ID
検出器
日付
ADSC QUANTUM 4
1
CCD
2005年6月3日
ADSC QUANTUM 4
2
CCD
2005年6月3日
放射
ID
モノクロメーター
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
KOHZUdoublecrystalmonochromator
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
KOHZUdoublecrystalmonochromator
MAD
M
x-ray
2
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.97923
1
2
0.97917
1
3
0.97948
1
4
0.96791
1
Reflection
冗長度: 3.7 % / Av σ(I) over netI: 12.7 / 数: 285550 / Rmerge(I) obs: 0.064 / Χ2: 1.09 / D res high: 3 Å / D res low: 50 Å / Num. obs: 76284 / % possible obs: 99.7
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
6.46
50
97.7
1
0.027
1.124
3.5
5.13
6.46
99.9
1
0.044
1.06
3.7
4.48
5.13
99.9
1
0.041
1.063
3.7
4.07
4.48
100
1
0.046
1.106
3.7
3.78
4.07
100
1
0.059
1.064
3.8
3.56
3.78
100
1
0.071
1.078
3.8
3.38
3.56
100
1
0.095
1.107
3.8
3.23
3.38
100
1
0.128
1.098
3.8
3.11
3.23
100
1
0.173
1.099
3.8
3
3.11
100
1
0.223
1.067
3.8
反射
解像度: 2.4→30 Å / Num. obs: 75393 / % possible obs: 99.6 % / 冗長度: 3.6 % / Rmerge(I) obs: 0.055 / Χ2: 1.422 / Net I/σ(I): 15.9
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
2.4-2.49
3.3
0.279
7477
0.957
1,2
99.7
2.49-2.59
3.5
0.215
7527
1.017
1,2
99.8
2.59-2.7
3.6
0.175
7527
1.07
1,2
99.9
2.7-2.85
3.7
0.136
7547
1.157
1,2
99.9
2.85-3.02
3.8
0.101
7523
1.342
1,2
99.9
3.02-3.26
3.8
0.075
7519
1.447
1,2
99.7
3.26-3.58
3.7
0.057
7543
1.689
1,2
99.6
3.58-4.1
3.6
0.047
7542
1.864
1,2
99.7
4.1-5.16
3.5
0.041
7558
1.83
1,2
99.5
5.16-30
3.3
0.039
7556
1.832
1,2
98.2
-
位相決定
位相決定
手法: 多波長異常分散
Phasing set
ID
1
2
3
Phasing MAD
D res high: 2.81 Å / D res low: 20 Å / FOM : 0.37 / 反射: 46944
Phasing MAD set
Clust-ID
Expt-ID
Set-ID
波長 (Å)
F double prime refined
F prime refined
1
3wavelength
1
0.9795
3.26
-9.5
1
3wavelength
2
0.9792
5.09
-6.95
1
3wavelength
3
0.9679
3.45
-3.17
Phasing MAD set site
ID
Atom type symbol
B iso
Fract x
Fract y
Fract z
Occupancy
1
Se
41.105
0.252
0.497
0.082
0.273
2
Se
42.362
0.41
0.307
0.437
0.294
3
Se
44.375
0.66
0.311
0.054
0.285
4
Se
47.893
0.257
0.049
0.082
0.285
5
Se
46.586
0.341
0.324
0.005
0.286
6
Se
57.616
0.838
0.226
0.004
0.292
7
Se
60
0.136
0.244
0.426
0.304
8
Se
60
0.372
0.072
0.29
0.288
9
Se
60
0.843
0.239
0.06
0.329
10
Se
60
0.162
0.478
0.282
0.255
11
Se
60
0.378
0.078
0.419
0.221
12
Se
60
0.948
0.056
0.429
0.265
13
Se
60
0.167
0.472
0.41
0.23
14
Se
60
0.093
0.004
0.41
0.228
Phasing MAD shell
解像度 (Å)
FOM
反射
9.39-20
0.75
2507
6.18-9.39
0.7
3990
4.9-6.18
0.6
5060
4.19-4.9
0.49
5869
3.71-4.19
0.38
6661
3.37-3.71
0.27
7254
3.11-3.37
0.19
7759
2.9-3.11
0.11
7844
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
SOLVE
2.08
位相決定
RESOLVE
2.06
位相決定
REFMAC
5.2.0005
精密化
PDB_EXTRACT
3
データ抽出
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.41→29.49 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.952 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.931 / SU B: 12.993 / SU ML: 0.162 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.271 / ESU R Free: 0.216 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.235
3795
5 %
RANDOM
Rwork
0.195
-
-
-
obs
0.197
75392
100 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK