ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 ADSCQuantumデータ収集 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング SHARP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.1→25.98 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.955 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.957 / SU B : 1.093 / SU ML : 0.026 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.046 / ESU R Free : 0.042 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.21332 482 4.7 % RANDOM Rwork 0.20172 - - - obs 0.20227 9673 96.16 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 8.1 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.53 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.32 Å2 0 Å2 3- - - -0.85 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.1→25.98 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 242 0 54 296
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.021 270 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.003 0.02 112 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.686 3 414 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.177 3 280 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.068 0.2 44 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.008 0.02 128 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 24 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.131 0.2 42 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.27 0.2 132 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.276 0.2 76 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.072 0.2 73 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.075 0.2 45 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.098 0.2 4 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.223 0.2 20 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.091 0.2 11 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.786 3 412 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.849 4.5 414 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restr1.05 3 412 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded2.993 3 242
LS精密化 シェル 解像度 : 1.1→1.129 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.302 24 - Rwork 0.269 473 - obs - - 65.48 %