温度: 277 K 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法, nanodrop 詳細: 20.0% PEG-3350, 0.2M NaFormate, 2.0mM n-Dodecyl-beta-D-maltoside, VAPOR DIFFUSION,SITTING DROP,NANODROP, temperature 277K
-
データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
1
100
1
2
1
1,2
1
放射光源
由来
サイト
ビームライン
ID
波長
波長 (Å)
シンクロトロン
ALS
8.2.1
1
0.9794
シンクロトロン
ALS
8.2.1
2
1.0000,0.9796
検出器
タイプ: ADSC / 検出器: CCD / 日付: 2004年8月4日
放射
ID
モノクロメーター
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
DoubleCrystalSi(111)
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
MAD
M
x-ray
2
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.9794
1
2
1
1
3
0.9796
1
反射
解像度: 1.82→28.41 Å / Num. obs: 94227 / % possible obs: 98.2 % / 冗長度: 4.8 % / Biso Wilson estimate: 36.02 Å2 / Rsym value: 0.054 / Net I/σ(I): 13.8
反射 シェル
解像度: 1.82→1.92 Å / 冗長度: 2.5 % / Mean I/σ(I) obs: 2.2 / Num. unique all: 12449 / Rsym value: 0.418 / % possible all: 89.3
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
XDSauto
データ収集
SCALA
4.2)
データスケーリング
SHELX
モデル構築
SHARP
位相決定
REFMAC
5.2.0005
精密化
XDS
データ削減
CCP4
(SCALA)
データスケーリング
SHELX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.82→28.41 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.966 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.958 / SU B: 6.065 / SU ML: 0.088 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.113 / ESU R Free: 0.107 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS POOR DENSITY REGION AT B16-20. UNKNOWN LIGANDS MODELED NEAR PLP IN EACH MONOMER.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20341
4716
5 %
RANDOM
Rwork
0.17902
-
-
-
obs
0.18022
89425
98.08 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK