ソフトウェア 名称 バージョン 分類 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング MOLREP位相決定 REFMAC5.2.0001精密化
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1VJF解像度 : 1.6→49.34 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.965 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.953 / SU B : 1.364 / SU ML : 0.049 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.081 / ESU R Free : 0.082 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : 1. HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS 2. TWO SULFATE IONS COULD BE SOMETHING ELSERfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.18496 2209 5 % RANDOM Rwork 0.15201 - - - obs 0.15366 41937 100 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 10.51 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.43 Å2 0 Å2 -0.57 Å2 2- - -0.43 Å2 0 Å2 3- - - -0.21 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.6→49.34 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2550 0 34 510 3094
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 23) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.014 0.022 2652 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 2456 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.497 1.962 3595 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.835 3 5727 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.675 5 329 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.143 24.867 113 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg9.978 15 463 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.524 15 12 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.096 0.2 435 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 2881 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 495 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.217 0.2 524 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.175 0.2 2609 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.082 0.2 1600 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.148 0.2 374 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.108 0.2 6 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.236 0.2 48 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.203 0.2 25 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it2.22 3 1749 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.581 3 676 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.63 5 2700 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it4.59 8 1049 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it6.451 11 895
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Auth asym-ID : A / Ens-ID : 1 / 数 : 2410 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
タイプ Rms dev position (Å)Weight position medium positional0.33 0.5 medium thermal0.72 2
LS精密化 シェル 解像度 : 1.6→1.641 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.241 121 5.23 % Rwork 0.213 2191 -