モノクロメーター: single crystal Si(311) bent monochromator プロトコル: MAD / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.939244
1
2
0.979414
1
3
0.979121
1
反射
解像度: 1.91→19.77 Å / Num. obs: 20420 / % possible obs: 89.4 % / 冗長度: 12.6 % / Biso Wilson estimate: 27.8 Å2 / Rsym value: 0.066 / Net I/σ(I): 27.3
反射 シェル
解像度: 1.91→2.02 Å / 冗長度: 8.1 % / Mean I/σ(I) obs: 9.4 / Num. unique all: 1885 / Rsym value: 0.209 / % possible all: 58
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MOSFLM
データ削減
SCALA
4.2)
データスケーリング
XDS
データスケーリング
SHELX
モデル構築
autoSHARP
位相決定
REFMAC
5.1.24
精密化
CCP4
(SCALA)
データスケーリング
SHELX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.91→19.77 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.952 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.921 / SU B: 3.534 / SU ML: 0.097 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.171 / ESU R Free: 0.158 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS, BUILT LOOPS 14-19, 59-62, 23-26 HAVE POOR ELECTRON DENSITY. LOOP 23-26 WAS MODELLED AS DUAL CONFORMATION.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.21938
1038
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.1676
-
-
-
obs
0.17007
19333
89.4 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 20.243 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.27 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-0.72 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.45 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.91→19.77 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2212
0
0
193
2405
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.016
0.021
2298
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.002
0.02
2115
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.542
1.94
3102
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.873
3
4892
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.17
5
285
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.097
0.2
349
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.007
0.02
2549
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.005
0.02
507
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.208
0.2
403
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.244
0.2
2400
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.084
0.2
1358
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.157
0.2
133
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.16
0.2
8
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.31
0.2
71
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.101
0.2
15
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
2.074
3
1420
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
3.663
5
2291
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
5.713
8
878
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
8.508
11
811
LS精密化 シェル
解像度: 1.91→1.96 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.378
54
6.02 %
Rwork
0.307
843
-
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 34.299 Å / Origin y: 34.516 Å / Origin z: 7.404 Å