ソフトウェア 名称 : REFMAC / バージョン : 5 / 分類 : 精密化精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 2→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.914 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.913 / SU B : 7.457 / SU ML : 0.194 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.26 / ESU R Free : 0.2 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.27153 1032 9.7 % RANDOM Rwork 0.25352 - - - obs 0.25527 9565 94 % - all - 10112 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 40.739 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.35 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 1.35 Å2 0 Å2 3- - - -2.69 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1087 0 12 61 1160
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 31) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.013 0.022 1102 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 1033 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.472 1.97 1482 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.941 3 2419 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.765 5 130 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg16.167 15 227 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.085 0.2 176 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 1176 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.002 0.02 203 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.25 0.2 311 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.239 0.2 1151 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.086 0.2 606 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.254 0.2 25 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_other0.223 0.5 1 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.247 0.2 4 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.39 0.2 25 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.371 0.2 8 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.243 1.5 660 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.412 2 1068 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it0.811 3 442 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.303 4.5 414 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.001→2.052 Å / Total num. of bins used : 20 / Rfactor 反射数 Rfree 0.369 64 Rwork 0.356 534
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 4.1881 -0.2595 0.7848 3.7732 0.2196 6.1682 -0.2453 -0.1871 0.2861 0.0462 0.0514 0.513 -0.1416 -0.5641 0.1939 0.0117 0.0227 -0.0165 0.0977 -0.0701 0.1133 28.931 3.6077 81.6041 2 6.0753 1.9945 -0.3752 4.6751 0.3245 5.3716 -0.2093 0.1938 0.5389 -0.1794 0.0733 0.9987 -0.1228 -0.8533 0.136 0.0934 0.079 -0.1108 0.2256 -0.0491 0.3168 22.8055 7.4446 74.2219
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA12 - 88 12 - 88 2 X-RAY DIFFRACTION 2 AA97 - 151 97 - 151
ソフトウェア *PLUS
バージョン : 5.1.19 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
最高解像度 : 2 Å / 最低解像度 : 24.99 Å / % reflection Rfree : 8 % / Rfactor Rfree : 0.272 / Rfactor Rwork : 0.254 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.013 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg1.47