モノクロメーター: Double-crystal Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9785 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.05→50 Å / Num. all: 12634 / Num. obs: 12634 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 5.82 % / Biso Wilson estimate: 53.02 Å2 / Rsym value: 0.112 / Net I/σ(I): 22.26
反射 シェル
解像度: 2.05→2.12 Å / 冗長度: 5.04 % / Mean I/σ(I) obs: 1.53 / Num. unique all: 1231 / Rsym value: 0.912 / % possible all: 98.17
反射
*PLUS
最高解像度: 2.3 Å / 最低解像度: 50 Å / Num. obs: 9367 / % possible obs: 99.4 % / Num. measured all: 73376 / Rmerge(I) obs: 0.082
反射 シェル
*PLUS
最高解像度: 2.31 Å / 最低解像度: 2.43 Å / % possible obs: 99.2 % / Rmerge(I) obs: 0.32 / Mean I/σ(I) obs: 4.2
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
SOLVE
位相決定
RESOLVE
モデル構築
REFMAC
5.1.9999
精密化
RESOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.3→38.97 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.956 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.914 / SU B: 11.935 / SU ML: 0.154 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / Isotropic thermal model: ISOTROPIC / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.239 / ESU R Free: 0.215 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: 1. HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. 2. PROMINENT DENSITY NEAR RESIDUES SER64 AND ASP111 COULD BE RESIDUAL CAMP, SINCE THIS SEEMS TO BE A CAMP-BINDING CASSETTE.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.25324
443
4.8 %
RANDOM
Rwork
0.19483
-
-
-
obs
0.19743
8737
97.99 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 47.357 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
2.04 Å2
1.02 Å2
0 Å2
2-
-
2.04 Å2
0 Å2
3-
-
-
-3.05 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.3→38.97 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1024
0
0
111
1135
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.019
0.022
1043
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.02
1007
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.419
1.99
1408
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.782
3
2353
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.467
5
128
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
34.407
25.476
42
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.405
15
203
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
19.652
15
3
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.08
0.2
170
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.005
0.02
1113
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
190
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.217
0.2
170
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.165
0.2
897
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.085
0.2
596
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.22
0.2
64
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.215
0.2
12
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.306
0.2
37
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.168
0.2
10
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
0.797
1.5
725
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
1.137
2
1056
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
1.807
3
428
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
2.585
4.5
352
LS精密化 シェル
解像度: 2.3→2.36 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.427
26
4.03 %
Rwork
0.287
619
-
精密化 TLS
手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION
ID
L11 (°2)
L12 (°2)
L13 (°2)
L22 (°2)
L23 (°2)
L33 (°2)
S11 (Å °)
S12 (Å °)
S13 (Å °)
S21 (Å °)
S22 (Å °)
S23 (Å °)
S31 (Å °)
S32 (Å °)
S33 (Å °)
T11 (Å2)
T12 (Å2)
T13 (Å2)
T22 (Å2)
T23 (Å2)
T33 (Å2)
Origin x (Å)
Origin y (Å)
Origin z (Å)
1
5.1477
-1.1575
0.0679
2.1811
0.7825
4.0282
-0.0367
-0.3204
0.4106
-0.0173
0.08
0.0196
-0.4471
-0.1797
-0.0432
-0.324
-0.0112
-0.0084
-0.1991
-0.0074
-0.2657
20.974
31.226
2.188
2
11.483
-2.8283
1.2546
2.5128
-0.9428
1.8596
0.2244
0.1901
-0.2856
0.0121
-0.1247
0.1675
0.0339
-0.0061
-0.0997
-0.2702
-0.0076
0.0111
-0.2935
0.0126
-0.3057
18.818
22.674
-11.174
精密化 TLSグループ
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Selection: ALL / Auth asym-ID: A / Label asym-ID: A
ID
Refine TLS-ID
Auth seq-ID
Label seq-ID
1
1
1 - 90
13 - 102
2
2
91 - 129
103 - 141
精密化
*PLUS
最高解像度: 2.3 Å / 最低解像度: 50 Å / Rfactor Rfree: 0.253 / Rfactor Rwork: 0.197