プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
相対比: 1
反射
解像度: 2.8→20 Å / Num. obs: 18552 / Observed criterion σ(I): -3 / Biso Wilson estimate: 30.1 Å2
-
解析
ソフトウェア
名称: CNS / バージョン: 1.1 / 分類: 精密化
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.9→19.99 Å / Rfactor Rfree error: 0.007 / Data cutoff high absF: 274614.79 / Data cutoff high rms absF: 274614.79 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber / 詳細: Freidel pairs were used in the refinement.