解像度: 1.85→2 Å / 冗長度: 3 % / Rmerge(I) obs: 0.199 / Mean I/σ(I) obs: 5.45 / Num. unique all: 1913 / % possible all: 98.6
反射
*PLUS
最低解像度: 15 Å / 冗長度: 3 %
反射 シェル
*PLUS
最低解像度: 1.948 Å / % possible obs: 98.4 % / Num. unique obs: 1281
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5
精密化
XDS
データ削減
XTALVIEW
精密化
MAR345
データ収集
XDS
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.85→15 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.929 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.858 / SU B: 5.12 / SU ML: 0.159 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.195 / ESU R Free: 0.189 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.29726
440
4.8 %
RANDOM
Rwork
0.22821
-
-
-
all
0.2314
9180
-
-
obs
0.23144
8780
97.35 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK