ソフトウェア | 名称 | 分類 |
---|
CNS | 精密化 | DENZO | データ削減 | SCALEPACK | データスケーリング | CNS | 位相決定 |
|
---|
精密化 | 構造決定の手法: フーリエ合成 開始モデル: PDB CODE 1JFG 解像度: 2.6→24.49 Å / Rfactor Rfree error: 0.005 / Data cutoff high absF: 2061956.09 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
---|
Rfree | 0.252 | 3111 | 7.6 % | RANDOM |
---|
Rwork | 0.219 | - | - | - |
---|
obs | - | 40791 | 99.7 % | - |
---|
|
---|
溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 31.3452 Å2 / ksol: 0.324764 e/Å3 |
---|
原子変位パラメータ | Biso mean: 44.3 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
---|
1- | 1.51 Å2 | 5.73 Å2 | 0 Å2 |
---|
2- | - | 1.51 Å2 | 0 Å2 |
---|
3- | - | - | -3.02 Å2 |
---|
|
---|
Refine analyze | | Free | Obs |
---|
Luzzati coordinate error | 0.38 Å | 0.33 Å |
---|
Luzzati d res low | - | 5 Å |
---|
Luzzati sigma a | 0.36 Å | 0.31 Å |
---|
|
---|
精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.6→24.49 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
---|
原子数 | 5882 | 0 | 27 | 226 | 6135 |
---|
|
---|
拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
---|
X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.007 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.1 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d18.9 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.78 | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | 解像度: 2.6→2.76 Å / Rfactor Rfree error: 0.014 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
---|
Rfree | 0.334 | 572 | 8.5 % |
---|
Rwork | 0.282 | 6137 | - |
---|
obs | - | - | 100 % |
---|
|
---|
Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
---|
X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMPOP.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | EDO.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 4 | POP.PARION.TOPX-RAY DIFFRACTION | 5 | ION.PARAMEDO.TOP | | | | | | | | | |
|
---|
精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.6 Å / 最低解像度: 25 Å / σ(F): 0 / % reflection Rfree: 7.6 % / Rfactor obs: 0.223 / Rfactor Rfree: 0.256 |
---|
溶媒の処理 | *PLUS |
---|
原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 44.3 Å2 |
---|
拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
---|
X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg19 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.8 | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.334 / % reflection Rfree: 8.5 % / Rfactor Rwork: 0.282 |
---|