ソフトウェア 名称 バージョン 分類 AMoRE位相決定 X-PLOR3.851 精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 解像度 : 2.1→8 Å / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 3 詳細 : ANISOTROPIC B VALUES WERE APPLIED TO FCALC DURING REFINEMENT IN ORDER TO SCALE FCALC TO FOBSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.317 598 10 % RANDOM Rwork 0.23 - - - obs 0.23 5723 88.9 % -
原子変位パラメータ Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -8.5841 Å2 0 Å2 -1.8465 Å2 2- - 16.8867 Å2 0 Å2 3- - - -8.3025 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→8 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 808 1 91 900
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION x_bond_d0.017 X-RAY DIFFRACTION x_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION x_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION x_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_angle_deg1.9 X-RAY DIFFRACTION x_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION x_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION x_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION x_scbond_itX-RAY DIFFRACTION x_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.19 Å / Total num. of bins used : 8 / 反射数 %反射 Rfree 55 - Rwork 450 - obs - 68 %
ソフトウェア *PLUS
名称 : X-PLOR / バージョン : 3.851 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
Rfactor obs : 0.23 / Rfactor Rwork : 0.23 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS