ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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X-PLOR | | モデル構築 | X-PLOR | 3.1 | 精密化 | SCALEPACK | | データスケーリング | X-PLOR | | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: OTHER 開始モデル: PDB ENTRY 1OYA 解像度: 2.7→8 Å / Data cutoff high absF: 10000000 / Data cutoff low absF: 0.001 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.273 | - | 7 % | RANDOM |
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Rwork | 0.19 | - | - | - |
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obs | 0.19 | 10752 | 87.4 % | - |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 15.5 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.7→8 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3175 | 0 | 31 | 127 | 3333 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.009 | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.6 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d24.8 | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d1.39 | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.7→2.82 Å / Total num. of bins used: 8
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.326 | 82 | - |
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Rwork | 0.235 | 998 | - |
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obs | - | - | 72.9 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PARHCSDX.PROX-RAY DIFFRACTION | 2 | PARAM19.SOLX-RAY DIFFRACTION | 3 | PARAFMN.PRO | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.7 Å / 最低解像度: 8 Å / σ(F): 2 / % reflection Rfree: 7 % / Rfactor obs: 0.19 / Rfactor Rwork: 0.19 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 15.5 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.6 | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg24.8 | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_deg1.39 | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS 最高解像度: 2.7 Å / Rfactor Rfree: 0.326 / Rfactor Rwork: 0.235 |
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