ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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MADSYS | | 位相決定 | X-PLOR | 3.8 | モデル構築 | X-PLOR | 3.8 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング | X-PLOR | 3.8 | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: MAD PHASING / 解像度: 2→6.5 Å / Rfactor Rfree error: 0.01 / Data cutoff high absF: 1000000 / Data cutoff low absF: 0.001 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.253 | 582 | 8.6 % | RANDOM |
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Rwork | 0.211 | - | - | - |
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obs | 0.211 | 6733 | 99.7 % | - |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 22.01 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2→6.5 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 881 | 0 | 0 | 24 | 905 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.007 | | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.396 | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d26.92 | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d1.192 | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it2.157 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it3.319 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it4.21 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it6.231 | 2.5 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2→2.09 Å / Rfactor Rfree error: 0.031 / Total num. of bins used: 8
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.268 | 73 | 8.7 % |
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Rwork | 0.255 | 739 | - |
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obs | - | - | 99.3 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PARHCSDX.PROTOPHCSDX.PROX-RAY DIFFRACTION | 2 | TIP3P.PARAMETERTIP3P.TOPOLOGY | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.8 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg26.92 | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_deg1.192 | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor obs: 0.255 |
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