| ビーム | 設備名称: Advanced Light Source (ALS) 12.3.1 (SIBYLS) / 地域: Berkeley, CA / 国: USA / 線源: X-ray synchrotron / 波長: 0.103 Å / スペクトロメータ・検出器間距離: 1.5 mm |
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| 検出器 | 名称: Pilatus3 X 2M / Pixsize x: 172 mm |
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| スキャン | タイトル: 80 base pair DNA / 測定日: 2018年6月1日 / セル温度: 10 °C / 照射時間: 3 sec. / フレーム数: 300 / 単位: 1/A / |
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| 距離分布関数 P(R) | ソフトウェア P(R): GNOM 4.6 / ポイント数: 499 / | Min | Max |
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| Q | 0.01064 | 0.3135 |
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| P(R) point | 1 | 499 |
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| R | 0 | 288.5 |
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| 結果 | Experimental MW: 59 kDa / カーブのタイプ: single_conc
| P(R) | Guinier | Guinier error |
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| 前方散乱 I0 | 814.9 | 779.47 | 5.13 |
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| 慣性半径, Rg | 7.74 nm | 6.98 nm | 0.211 |
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| Min | Max |
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| D | - | 28.85 |
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| Guinier point | 2 | 15 |
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