ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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X-PLOR | 3.1 | モデル構築 | X-PLOR | 3.1 | 精密化 | SDMS | | データ削減 | SDMS | | データスケーリング | X-PLOR | 3.1 | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.6→10 Å / Data cutoff high absF: 10000000 / Data cutoff low absF: 0.001 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: A POSTERIORI / σ(F): 0 / 詳細: BULK SOLVENT MODEL USED. REFINEMENT IS CONTINUING.
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rwork | 0.19 | - | - | - |
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obs | 0.19 | 5702 | 99.5 % | - |
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Rfree | - | - | - | RANDOM |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 24.8 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.15 Å2 | 0.22 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -0.15 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 0.3 Å2 |
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Refine analyze | Luzzati coordinate error obs: 0.24 Å / Luzzati d res low obs: 10 Å / Luzzati sigma a obs: 0.24 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.6→10 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1336 | 0 | 34 | 56 | 1426 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.01 | | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.7 | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d25 | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d1.6 | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it3.19 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it4.84 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it4.88 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it7.17 | 2.5 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.6→2.76 Å / Total num. of bins used: 6 / | Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rwork | 0.228 | 935 | - |
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obs | - | - | 98.5 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | ECFL30.PARAMECFL30.TOPOLX-RAY DIFFRACTION | 2 | PARHCSDX.PROTOPH19X.PRO | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS Rfactor all: 0.195 / Rfactor obs: 0.191 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg25 | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_deg1.6 | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor obs: 0.228 |
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