タイトル | Radiation damage in SOS chip experiments |
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ジャーナル・号・ページ | To Be Published |
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掲載日 | 2024年9月17日 (構造データの登録日) |
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著者 | Gorel, A. / Schlichting, I. |
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リンク | PubMedで検索 |
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手法 | X線回折 |
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解像度 | 1.57 - 1.67 Å |
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構造データ | PDB-9gt0: DTPAA CHIP EXPERIMENT, ID29, X,Y SPACING 100,100 手法: X-RAY DIFFRACTION / 解像度: 1.67 Å PDB-9gt1: DTPAA CHIP EXPERIMENT, ID29, X,Y SPACING 75,75 手法: X-RAY DIFFRACTION / 解像度: 1.67 Å PDB-9gt2: DTPAA CHIP EXPERIMENT, ID29, X,Y SPACING 50,50 手法: X-RAY DIFFRACTION / 解像度: 1.6 Å PDB-9gt3: DTPAA CHIP EXPERIMENT, ID29, X,Y SPACING 25,100 手法: X-RAY DIFFRACTION / 解像度: 1.67 Å PDB-9gt4: DTPAA CHIP EXPERIMENT, ID29, X,Y SPACING 25,75 手法: X-RAY DIFFRACTION / 解像度: 1.67 Å PDB-9gt5: DTPAA CHIP EXPERIMENT, ID29, X,Y SPACING 25,50 手法: X-RAY DIFFRACTION / 解像度: 1.63 Å PDB-9gt6: DTPAA CHIP EXPERIMENT, ID29, X,Y SPACING 25,25 手法: X-RAY DIFFRACTION / 解像度: 1.57 Å PDB-9gt7: DTPAA CHIP EXPERIMENT, ID29, X,Y SPACING 15,100 手法: X-RAY DIFFRACTION / 解像度: 1.67 Å |
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化合物 | |
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由来 | streptomyces lividans 1326 (バクテリア)
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キーワード | OXIDOREDUCTASE / PEROXIDASE / RADIATION DAMAGE / SERIAL CRYSTALLOGRAPHY |
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