モノクロメーター: SINGLE WAVELENGTH - BARTELS MONOCHROMATOR WITH DUAL CHANNEL CUT CRYSTALS (DCCM) IN (+--+) GEOMETRY, AND A TOROIDAL MIRROR (M2) TO VERTICALLY AND HORIZONTALLY FOCUS THE BEAM ...モノクロメーター: SINGLE WAVELENGTH - BARTELS MONOCHROMATOR WITH DUAL CHANNEL CUT CRYSTALS (DCCM) IN (+--+) GEOMETRY, AND A TOROIDAL MIRROR (M2) TO VERTICALLY AND HORIZONTALLY FOCUS THE BEAM AT THE SAMPLE POSITION (WITH 2:1 HORIZONTAL DEMAGNIFICATION)" プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
解像度: 2→2.11 Å / 冗長度: 3.7 % / Rmerge(I) obs: 0.284 / Mean I/σ(I) obs: 2.5 / Rsym value: 0.284 / % possible all: 99.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
XDS
データスケーリング
PHASER
MR
位相決定
REFMAC
5.5.0109
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: PHL P 4 FROM THE P6122 SPACE GROUP 解像度: 2→67.94 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.962 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.937 / SU B: 3.378 / SU ML: 0.096 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.155 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.207
3472
5 %
RANDOM
Rwork
0.16
-
-
-
obs
0.162
65994
100 %
-
all
-
65994
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK