モノクロメーター: Si-111 crystal / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.9 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 23 % / Av σ(I) over netI: 48.81 / 数: 751575 / Rmerge(I) obs: 0.083 / Χ2: 1 / D res high: 2.4 Å / D res low: 50 Å / Num. obs: 32641 / % possible obs: 98.9
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
5.17
50
99.7
1
0.038
0.986
23.4
4.1
5.17
100
1
0.04
1
23.6
3.58
4.1
99.7
1
0.05
1.016
23.5
3.26
3.58
99.5
1
0.07
0.993
23.5
3.02
3.26
99.1
1
0.105
1.012
23.3
2.85
3.02
98.8
1
0.15
1
23.3
2.7
2.85
98.5
1
0.205
1.004
23.2
2.59
2.7
98.1
1
0.271
1
22.9
2.49
2.59
97.6
1
0.334
0.991
22.3
2.4
2.49
97.5
1
0.373
0.999
21.2
反射
解像度: 2.4→50 Å / Num. all: 33026 / Num. obs: 32641 / % possible obs: 98.9 % / 冗長度: 23 % / Rmerge(I) obs: 0.083 / Net I/σ(I): 48.813
反射 シェル
解像度: 2.4→2.49 Å / 冗長度: 21.2 % / Rmerge(I) obs: 0.373 / Mean I/σ(I) obs: 10.2 / % possible all: 97.5
-
位相決定
位相決定
手法: 単波長異常分散
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
SHARP
位相決定
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.006
データ抽出
MAR345dtb
データ収集
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.4→32.11 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.955 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.932 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.1 / SU B: 4.683 / SU ML: 0.113 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.235 / ESU R Free: 0.188 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.19804
1620
5 %
RANDOM
Rwork
0.15603
-
-
-
obs
0.15817
30794
98.08 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK