ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 HKL-2000データ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング SHARP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 2.82→49.85 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.924 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.844 / SU B : 27.231 / SU ML : 0.265 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 3.944 / ESU R Free : 0.394 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.27599 353 4.6 % RANDOM Rwork 0.2137 - - - obs 0.21648 7336 99.51 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 20.782 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.84 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.22 Å2 0 Å2 3- - - -0.63 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.82→49.85 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 993 810 0 18 1821
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 17) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.009 0.021 1911 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.527 2.485 2738 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.981 5 113 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg34.593 22.203 59 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg21.11 15 228 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg21.969 15 18 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.073 0.2 323 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 1136 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.196 0.2 718 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.282 0.2 1250 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.193 0.2 47 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.211 0.2 41 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.34 0.2 4 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.97 1.5 599 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.364 2 925 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.147 3 1698 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.916 4.5 1813
LS精密化 シェル 解像度 : 2.818→2.891 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.322 14 - Rwork 0.281 473 - obs - - 93.3 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 3.3926 Å / Origin y : -77.5938 Å / Origin z : -11.7571 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T -0.0411 Å2 0.0074 Å2 -0.0114 Å2 - -0.0703 Å2 -0.0216 Å2 - - -0.0589 Å2 L 1.428 °2 -0.2619 °2 -0.4154 °2 - 1.7047 °2 -0.441 °2 - - 1.2975 °2 S -0.1038 Å ° -0.1022 Å ° 0.2437 Å ° 0.0441 Å ° 0.0847 Å ° -0.1021 Å ° -0.2067 Å ° 0.0717 Å ° 0.0191 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AC7 - 58 7 - 58 2 X-RAY DIFFRACTION 1 BD7 - 58 7 - 58 3 X-RAY DIFFRACTION 1 CA1 - 19 1 - 19 4 X-RAY DIFFRACTION 1 DB1 - 19 1 - 19