プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.2822 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.5→56.31 Å / Num. obs: 5133 / % possible obs: 98.9 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 6.81 % / Rmerge(I) obs: 0.11 / Net I/σ(I): 5.59
反射 シェル
解像度: 2.8→2.95 Å / 冗長度: 7.12 % / Rmerge(I) obs: 0.45 / Mean I/σ(I) obs: 1.47 / % possible all: 98.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.5.0104
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 2.8→33.08 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.934 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.908 / SU B: 20.058 / SU ML: 0.227 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.34 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.238
232
4.5 %
RANDOM
Rwork
0.192
-
-
-
obs
0.194
4899
98.3 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK