6DHG

RT XFEL structure of Photosystem II 150 microseconds after the second illumination at 2.5 Angstrom resolution

これはPDB形式変換不可エントリーです。

Experimental procedure

実験手法	SINGLE WAVELENGTH
Source type	FREE ELECTRON LASER
Source details	SLAC LCLS BEAMLINE MFX
Synchrotron site	SLAC LCLS
Beamline	MFX
Temperature [K]	298
Detector technology	CCD
Collection date	2017-07-13
Detector	RAYONIX MX170-HS
Wavelength(s)	1.305
Spacegroup name	P 21 21 21
格子定数 [Å]	117.553, 222.695, 309.061
格子定数 [度]	90.00, 90.00, 90.00

精密化法

残基	30.783 - 2.500
R因子	0.168
Rwork	0.167
R-free	0.24640
Data reduction software	cctbx.xfel
Phasing software	PHASER
Refinement software	PHENIX (dev_svn)

Quality characteristics

	Overall	Inner shell	Outer shell
分解能 [Å] (低)	30.780	30.780	2.543
分解能 [Å] (高)	2.500	6.786	2.500
独立反射数	279073
<I/σ(I)>	11.143	71.486	0.983
完全性 [%]	99.9	98.67	99.99
冗長性	61.41	185.03	12.86
CC(1/2)	0.938	0.953	0.068

結晶化条件

結晶ID	方法	pH	温度	溶液条件
1	BATCH MODE	6.5	298	0.1 M MES pH 6.5, 0.1 M NH4Cl, 35% (w/v) PEG 5000