ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング SHELXD位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.5→15.21 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 834780.52 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.185 908 8.1 % RANDOM Rwork 0.164 - - - obs 0.164 11234 99.8 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 37.1916 Å2 / ksol : 0.340968 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 14.7 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -1.13 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.68 Å2 0 Å2 3- - - 0.45 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.15 Å 0.12 Å Luzzati d res low - 5 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.5→15.21 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 452 0 0 129 581
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.013 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.7 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d25.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.33 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.38 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.73 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.66 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it3.63 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.5→1.59 Å / Rfactor Rfree error : 0.019 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.216 134 7.3 % Rwork 0.164 1707 - obs - - 100 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMWATER.TOP
精密化 *PLUS
最低解像度 : 15 Å溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg25.5 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg1.33